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北京大学申请半导体制备方法、半导体结构和芯片专利,同时提供BDI层以及ESD保护

2024-01-31 01:40:49
金融界
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摘要:金融界2024年1月30日消息,据国家知识产权局公告,北京大学申请一项名为“半导体制备方法、半导体结构和芯片“,公开号CN117476640A,申请日期为2023年10月。专利摘要显示,本申请提供一种半导体制备方法、半导体结构和芯片。该方法包括:在衬底上形成第一层叠结构和第二层叠结构,其中,第一层叠结构用于形成第一晶体管,第二层叠结构用于形成第二晶体管,第一层叠结构和第二层叠结构与衬底之间均形成有第一牺牲层;去除第一牺牲层位于第二层叠结构和衬底之间的部分,以在第二层叠结构和衬底之间形成间隙;在间隙内形成BDI层;形成第一晶体管的第一外延结构和第二外延结构、以及第二晶体管的第三外延结构,其中,第一外延结构和第二外延结构构成第一晶体管的源极和/或漏极,第三外延结构构成第二晶体管的源极和/或漏极,BDI层介于第三外延结构和衬底之间。通过本申请,同时了提供BDI层以及ESD保护。

金融界2024年1月30日消息,据国家知识产权局公告,北京大学申请一项名为“半导体制备方法、半导体结构和芯片“,公开号CN117476640A,申请日期为2023年10月。

专利摘要显示,本申请提供一种半导体制备方法、半导体结构和芯片。该方法包括:在衬底上形成第一层叠结构和第二层叠结构,其中,第一层叠结构用于形成第一晶体管,第二层叠结构用于形成第二晶体管,第一层叠结构和第二层叠结构与衬底之间均形成有第一牺牲层;去除第一牺牲层位于第二层叠结构和衬底之间的部分,以在第二层叠结构和衬底之间形成间隙;在间隙内形成BDI层;形成第一晶体管的第一外延结构和第二外延结构、以及第二晶体管的第三外延结构,其中,第一外延结构和第二外延结构构成第一晶体管的源极和/或漏极,第三外延结构构成第二晶体管的源极和/或漏极,BDI层介于第三外延结构和衬底之间。通过本申请,同时了提供BDI层以及ESD保护。

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